[发明专利]采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储器件在审
| 申请号： | 202011456574.1 | 申请日： | 2019-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN112466388A | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 徐晓东;赵祥明;刘顺临;陈轶 | 申请（专利权）人： | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人： | 林锦辉;刘景峰 |
| 地址： | 430074 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种方法用于测试包括封装衬底、控制器裸片和存储器裸片的存储器件。封装衬底包括隔离引脚、测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚。所述方法包括：将隔离引脚设置为使存储器裸片与控制器裸片隔离的隔离状态；以及在隔离引脚被设置为隔离状态时，将存储器裸片设置为经由测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚接收控制。 | ||
| 搜索关键词： | 采用 有限 数量 测试 引脚 存储 器件 方法 以及 利用 | ||
【主权项】：
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