[发明专利]半导体封装结构及其制备方法在审
申请号: | 202011459879.8 | 申请日: | 2020-12-11 |
公开(公告)号: | CN112582366A | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 霍炎;涂旭峰 | 申请(专利权)人: | 矽磐微电子(重庆)有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L21/60;H01L21/56 |
代理公司: | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人: | 武娜 |
地址: | 401331 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本申请提供一种半导体封装结构及其制备方法。本申请中,该半导体封装结构,包括待封装裸片、第一绝缘层、布线层、限位结构与锡球,待封装裸片包括相对的正面与背面;待封装裸片的正面设置有焊垫;第一绝缘层位于待封装裸片的正面,第一绝缘层包括第一开口以暴露焊垫;布线层位于第一绝缘层远离待封装裸片的一侧,布线层通过第一开口与焊垫电连接;限位结构位于布线层远离待封装裸片的一侧,限位结构包括容纳空间;锡球位于限位结构的容纳空间中,并与布线层电连接。本申请实施例提供的技术方案,可以防止植球时锡球的位置偏移,提高半导体封装结构的电学性能。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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