[发明专利]芯片封装方法及芯片封装结构有效

专利信息
申请号: 202011460680.7 申请日: 2020-12-11
公开(公告)号: CN112635335B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 杨斌;罗绍根;崔成强 申请(专利权)人: 广东佛智芯微电子技术研究有限公司;广东芯华微电子技术有限公司
主分类号: H01L21/48 分类号: H01L21/48;H01L21/56;H01L23/31;H01L23/498;H01L21/60
代理公司: 广州鼎贤知识产权代理有限公司 44502 代理人: 刘莉梅
地址: 528225 广东省佛山市南海区狮山镇*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开芯片封装方法,包括制备芯片封装用基底和芯片封装,包括以下步骤:提供第二衬底,在其一表面成型若干导电柱;提供第三衬底,在其一表面成型第二种子层以及在第二种子层上成型重布线层,并在重布线层和第二种子层上开设贯穿重布线层和第二种子层的过孔;将导电柱对准过孔嵌入,并使第二衬底与第三衬底贴合连接,制得芯片封装用基底;去除第二衬底和第三衬底中的其中一个,使导电柱的一端外露;提供若干芯片组,将芯片组倒装于芯片封装用基底的导电柱外露的一侧并进行塑封;去除第二衬底和第三衬底中的另一个,使导电柱的另一端外露,于导电柱外露的一端将芯片组电性引出。本发明在封装过程中可以有效降低翘曲现象,提高了芯片封装效果。
搜索关键词: 芯片 封装 方法 结构
【主权项】:
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