[发明专利]一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法在审
| 申请号： | 202011460698.7 | 申请日： | 2020-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN112595726A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 孙浩;李牧词;茆胜 | 申请（专利权）人： | 深圳市智联汇网络系统企业（有限合伙） |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/956;G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海洞鉴知识产权代理事务所(普通合伙) 31346 | 代理人： | 刘少伟 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明为涉及一种OLED微型显示器件的像素缺陷检测方法，包括以下步骤：将待检测样品置于检测平台，并点亮所述待检测样品；通过图像采集系统(CCD)获取所述待检测样品的图像信息；将所述图像信息与基准信息进行对比，获得实际缺陷数据。有益效果是：可以快速准确的对OLED微型显示器件的像素缺陷进行检测，并能完整记录像素缺陷的形貌，并对像素缺陷的小大进行量化处理，并对像素缺陷的位置进行定位，提高了检测效率，准确性，对OLED微型显示器件的工艺提高具有积极的帮助。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 oled 微型 显示 器件 像素 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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