[发明专利]IGCT相模块的测试系统及方法有效
| 申请号： | 202011466908.3 | 申请日： | 2020-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN112595948B | 公开（公告）日： | 2023-01-17 |
| 发明（设计）人： | 管华明;高永;李建坤 | 申请（专利权）人： | 西门子工厂自动化工程有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100016 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了IGCT相模块的测试系统及方法，该IGCT相模块的测试系统包括：光信号处理模块、IGCT相模块、信号检测模块、高压电源以及限流部件；信号检测模块、高压电源以及限流部件串联在IGCT相模块的两端；高压电源，用于输出高压电源信号；光信号处理模块，用于连接到至少两个IGCT开关模块，向至少两个IGCT开关模块中的待测试IGCT开关模块非持续性输出光触发信号，以控制待测试IGCT开关模块非持续导通；以及向至少两个IGCT开关模块中的除待测试IGCT开关模块之外的其他IGCT开关模块持续输出光触发信号，以控制该其他IGCT开关模块持续导通；信号检测模块，用于进行信号检测，并输出信号检测结果。本发明能够测试IGCT相模块在高压条件工作时能否满足业务要求。 | ||
| 搜索关键词： | igct 模块 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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