[发明专利]复介电常数测量方法、射频器件、集成电路及无线电器件有效
| 申请号： | 202011479721.7 | 申请日： | 2020-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN112688067B | 公开（公告）日： | 2023-02-21 |
| 发明（设计）人： | 庄凯杰;李珊;陈哲凡;王典 | 申请（专利权）人： | 加特兰微电子科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | H01Q1/38 | 分类号： | H01Q1/38;H01Q1/50;G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区自由贸易试验区盛夏*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种复介电常数测量方法、射频器件、集成电路及无线电器件。用于测试复介电常数的天线结构包括：依次叠置的天线层、介质层和金属地层；设置在天线层中的辐射单元；与辐射单元连接的馈线；以及设置在馈线上或者临近馈线设置的谐振结构；其中，辐射单元用于辐射无线电信号，以基于无线电信号在预设频段范围的极值增益得到谐振结构的实测谐振频率；以及基于实测谐振频率和极值增益可得到介质层的复介电常数。本申请实施例提供的复介电常数测量方法，操作简单，效果直观，精度较高。 | ||
| 搜索关键词： | 介电常数 测量方法 射频 器件 集成电路 无线电 | ||
【主权项】：
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