[发明专利]一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCIExpressIP核量产测试优化方法在审
| 申请号： | 202011480339.8 | 申请日： | 2020-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN112597009A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 陈雷;孙华波;张帆;李学武;李明哲;李政;杜艺波 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 张欢 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCI Express IP核量产测试优化方法，具体步骤如下：步骤1：产生FPGA内嵌PCI Express IP核测试需要的测试向量集；步骤2：使用测试向量节点覆盖率统计算法对测试向量集中的每个测试向量进行节点覆盖率测算；步骤3：由步骤2得到测试向量集中节点覆盖率最高的单测试向量；步骤4：使用测试向量集排序算法基于步骤3得到的单测试向量，对原测试向量集进行排序优化，完成对测试向量集的优化。通过以上步骤，在不降低测试覆盖率的前提下，采用基于覆盖率排序的量产测试优化方法完成对测试向量集的排序优化，可以有效提高测试向量集的测试效率，缩短配置测试时间，降低配置测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 覆盖率 排序 fpga pciexpressip 量产 测试 优化 方法 | ||
【主权项】：
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