[发明专利]用于检查大型样本的断层摄影装置在审

专利信息
申请号: 202011480852.7 申请日: 2020-12-15
公开(公告)号: CN112986184A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 刘大源;成治侐;李庸珍 申请(专利权)人: 株式会社湖碧驰
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45;G01N21/17;G01N21/88;G01B9/02
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 金鲜英;张敬强
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开一种断层摄影装置,其能够非破坏性地检查用于平板电脑的显示器、用于车辆的仪表板等大型样本的表面和内部。所述断层摄影装置包括:两个以上的光干涉断层摄影部(30、40),其在样本(5)的线扫描方向上依次配置并对样本(5)进行断层摄影,并且配置为在所述线扫描方向上使各个光干涉断层摄影部(30、40)的线扫描区域部分地重叠;驱动部(32、42),其调节各个所述光干涉断层摄影部(30、40)的高度,以使各个光干涉断层摄影部(30、40)从样本(5)的检查面隔开规定距离;以及样本安装部(50),其安装样本(5),并且用于向不同于线扫描方向的方向移送所安装的样本(5)。
搜索关键词: 用于 检查 大型 样本 断层 摄影 装置
【主权项】:
暂无信息
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