[发明专利]检测氘标记化合物同位素分布与丰度的方法有效
| 申请号： | 202011481789.9 | 申请日： | 2020-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN112630345B | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 李秀琴;张庆合;田甜;国振 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01N30/06 | 分类号： | G01N30/06;G01N30/72 |
| 代理公司： | 北京鼎真知识产权代理事务所(普通合伙) 11815 | 代理人： | 张濯非 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测氘标记化合物同位素分布与丰度的方法。该方法包括：对氘代化合物进行Q‑Orbitrap四级杆轨道阱高分辨质谱检测，并采集多张Full‑MS质谱图；基于所述多张谱图，得到同位素偏差值和仪器质量偏差值；以及同位素偏差值大于仪器质量偏差值，基于所述质谱检测，得到所述氘标记化合物同位素分布与丰度。该方法采用Q‑Orbitrap四级杆轨道阱高分辨质谱进行检测，检测方法简单、快速、稳定、灵敏度高。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 标记 化合物 同位素 分布 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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