[发明专利]光学同调断层扫描探头在审
| 申请号： | 202011492394.9 | 申请日： | 2020-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN114642829A | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 邱德义;陈凯翔;张启伸 | 申请（专利权）人： | 财团法人工业技术研究院 |
| 主分类号： | A61N1/36 | 分类号： | A61N1/36;A61N1/05;A61B5/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 陈小雯 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光学同调断层扫描探头，包含管状罩体、至少一电极、光纤扫描器以及辅助定位元件。电极设置于管状罩体的外表面。光纤扫描器设置于管状罩体内，且光纤扫描器包含光纤以及光学镜。光学镜设置于光纤的发光端，且光学镜的位置对应于管状罩体的可透光部位。辅助定位元件设置于管状罩体，且辅助定位元件与部分的可透光部位重叠。光纤扫描器发出的一光束行进通过可透光部位以产生断层扫描影像，且该光束的一部分与辅助定位元件互动而于断层扫描影像中形成对应辅助定位元件的特征点。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 同调 断层 扫描 探头 | ||
【主权项】：
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