[发明专利]一种芯片FT测试系统以及测试方法在审
| 申请号： | 202011493343.8 | 申请日： | 2020-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN112799887A | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 许锦海;唐振中;江华彬;李应浪;黄立伟;李兴祥 | 申请（专利权）人： | 珠海泰芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G01R31/28 |
| 代理公司： | 广东朗乾律师事务所 44291 | 代理人： | 闫有幸 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市高新区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种芯片FT测试系统以及测试方法，涉及芯片FT测试技术领域；所述测试系统包括自动测试设备ATE、待测芯片，所述待测芯片具有测试端口；其特征在于，还包括主机；所述主机存储有芯片测试用的全部测试pattern；所述主机通过所述测试端口传送测试pattern给所述待测芯片；所述自动测试设备ATE与所述主机通信连接，所述自动测试设备与所述待测芯片通信连接。芯片FT测试系统及测试方法，通过引入了主机、自动测试设备ATE以及待测芯片三方的交互，使得在测试pattern的传输过程，仅利用了芯片的测试端口即可，最大限度的让芯片的其他端口(引脚)得到开发利用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 ft 测试 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
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