[发明专利]芯片验证方法、装置、设备、存储介质有效
| 申请号： | 202011495163.3 | 申请日： | 2020-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN112596966B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 杨晶晶;谭帆;魏炽频 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/25;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京天达共和知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11586 | 代理人： | 薛仑 |
| 地址： | 300450 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供了一种芯片验证方法、装置、设备、存储介质。芯片验证方法，包括：覆盖点建立步骤，基于芯片中待验证的功能建立覆盖组和属于所述覆盖组中的两个覆盖点；验证覆盖点建立步骤，在所述覆盖组中建立对应于所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性的验证覆盖点；非法仓建立步骤，在所述验证覆盖点中根据所述验证环境配置信息与对应设计行为之间的相关性建立非法仓；验证步骤，所述覆盖组采样收集所述覆盖点的功能覆盖率，并通过所述非法仓是否在采样过程中被触发来校验所述验证环境配置信息与所述设计行为之间的相关性。本公开可以实现无论是直接通过监控设计行为，还是间接从验证环境配置信息所采样收集到的功能覆盖率结果均可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海光信息技术股份有限公司，未经海光信息技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011495163.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
