[发明专利]一种可抗阳光干扰型激光扫描测距仪有效

专利信息
申请号: 202011497542.6 申请日: 2020-12-17
公开(公告)号: CN112255617B 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 黎龙飞;陈士凯;于远芳;赖敏;夏吴斌 申请(专利权)人: 上海思岚科技有限公司
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481;G01S7/484;G01S7/4865;G01S17/48
代理公司: 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙) 31243 代理人: 王奎宇;杨孟娟
地址: 201210 上海市浦东新区中国(上海)自由贸*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请公开了一种可抗阳光干扰型激光扫描测距仪,包括:激光测距模块,激光测距模块用于向被测目标物发送投射光束,并接收经被测目标物反射的反射光束,并基于投射光束与接收光束时间差获得被测目标物的距离;角度扫描模块,其与激光测距模块可拆卸连接,角度扫描模块用于切换发送投射光束的方向,获得被测目标物体相对于测距仪的角度位置;阳光屏蔽模块,其设置于激光测距模块和角度扫描模块之间,阳光屏蔽模块用于屏蔽阳光。本申请在现有结构基础上引入阳光屏蔽模块,可防止环境光或太阳光沿某一特定角度不经角度扫描模块而直接投射到激光测距模块上,从而避免因环境光或太阳光而导致测量噪点甚至测距致盲现象的发生。
搜索关键词: 一种 阳光 干扰 激光 扫描 测距仪
【主权项】:
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