[发明专利]非易失性内存寿命检测方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202011552453.7 | 申请日： | 2020-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN112559229B | 公开（公告）日： | 2023-08-22 |
| 发明（设计）人： | 苏楠 | 申请（专利权）人： | 浪潮（北京）电子信息产业有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00;G06F11/30;G06F30/27;G06F18/214;G06F119/02;G06F119/04 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张雪娇 |
| 地址： | 100085 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种非易失性内存寿命检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，该方法包括：获取目标非易失性内存对应的第一内存运行数据；将第一内存运行数据输入寿命检测模型，得到目标非易失性内存对应的使用寿命；寿命检测模型基于训练样本训练得到，训练样本由第二内存运行数据和固态硬盘运行数据生成；输出使用寿命；该方法利用非易失性内存和固态硬盘的寿命周期类似的特性，可以利用固态硬盘运行数据对非易失性内存缺失的部分数据进行补充得到训练样本，基于此训练样本训练得到的寿命检测模型能够实现对非易失性内存的使用寿命进行检测的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失性 内存 寿命 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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