[发明专利]一种无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法有效
申请号: | 202011554491.6 | 申请日: | 2020-12-24 |
公开(公告)号: | CN112671378B | 公开(公告)日: | 2023-04-14 |
发明(设计)人: | 宋睿强;邵津津;刘必慰;吴振宇;梁斌;池雅庆;陈建军 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科技大学 |
主分类号: | H03K5/13 | 分类号: | H03K5/13;H03K17/28;H03K19/094 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人: | 胡君 |
地址: | 410073 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开一种无频率损耗的集成电路抗单粒子翻转加固方法,步骤包括:S1.获取目标集成电路中所有的触发器;S2.遍历获取的所有触发器进行判断,每次判断时对当前触发器所在的数据通路进行静态时序分析,计算出数据通路的时序余量,并计算将当前触发器替换为所需的加固触发器后建立时间参数的增量值以及CLK‑Q延时的增量值,根据当前触发器对应的时序余量与增量值之间的差值判断当前触发器是否为所需筛选出的目的触发器;S3.将步骤S2筛选出的所有目的触发器替换为加固触发器,得到加固后的集成电路。本发明能够抗单粒子翻转,同时能够保持集成电路工作频率不变,实现无频率损耗。 | ||
搜索关键词: | 一种 频率 损耗 集成电路 粒子 翻转 加固 方法 | ||
【主权项】:
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