[发明专利]薄膜晶体管及其制备方法和显示器件在审

专利信息
申请号: 202011554613.1 申请日: 2020-12-24
公开(公告)号: CN112635572A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 胡诗犇;龚政;庞超;龚岩芬;王建太;郭婵;潘章旭;陈志涛 申请(专利权)人: 广东省科学院半导体研究所
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/34;H01L27/12
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 刘曾
地址: 510651 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种薄膜晶体管及其制备方法和显示器件,涉及半导体电子器件领域,薄膜晶体管包括衬底、栅极、栅绝缘层、半导体层、钝化层以及源极和漏极;其中,半导体层具有沟道区,且半导体层与钝化层的接触界面处还形成有高导层,源极和漏极与高导层连接,高导层与沟道区连接。相较于现有技术,本发明提供的薄膜晶体管,通过在钝化层和半导体层界面形成高导层,在钝化层的沉积过程中实现了氧化物半导体薄膜的导体化,无需采用复杂的源极和漏极结构,简化了氧化物半导体薄膜晶体管的制备工艺,从而能够有效提高生产效率,降低制备成本。
搜索关键词: 薄膜晶体管 及其 制备 方法 显示 器件
【主权项】:
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