[发明专利]一种薄膜晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202011564030.7 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN112614896A 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 庞超;龚政;胡诗犇;郭婵;潘章旭;刘久澄;龚岩芬;王建太;邹胜晗;陈志涛 申请(专利权)人: 广东省科学院半导体研究所
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/24;H01L21/34;B82Y30/00
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 刘曾
地址: 510651 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明的实施例提供了一种薄膜晶体管及其制备方法,涉及半导体技术领域,薄膜晶体管包括衬底、栅极、栅绝缘层、有源层、源极和漏极,本发明提供的薄膜晶体管,通过采用具有p型半导体特性的多元硫化物二维纳米片薄膜制备有源层,而二维纳米片是一种在厚度方向上仅仅具有单个或者多个原子层,并且依靠层间的范德瓦尔斯力堆积而成的层状材料,其层间时较弱的范德华作用力,不用考虑晶格匹配的限制,故本发明减缓了生长材料间的晶格失配现象,提升了晶体质量。同时,本申请中采用具有p型半导体特性的多元硫化物,其无需再进行掺杂,工艺流程简单,不需要进行材料掺杂工艺,成本低廉,并且保留了材料自身固有性质,有助于提升器件性能。
搜索关键词: 一种 薄膜晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
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