[发明专利]非易失型芯片内部单步测试方法、装置、存储介质、终端有效
| 申请号： | 202011589882.1 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112530511B | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 黎永健;刘佳庆;蒋双泉 | 申请（专利权）人： | 芯天下技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 | 代理人： | 陈志超;唐敏珊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区园山街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种非易失型芯片内部单步测试方法、装置、存储介质、终端，接收单步测试配置；接收操作指令，根据单步测试配置启动对应的操作测试；获取操作测试中对应步骤的测试结果；对测试结果进行分析，最终得到Nor Flash芯片测试步骤组合；通过每一个基本的单步步骤和单步反馈结果搭建整个擦除或者编程的各个步骤，而且是根据需要随时可以调整；在工艺平台的升级换代时，通过不同的步骤的组合，能够快速找到一种可靠性高、执行速度快的步骤组合。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失型 芯片 内部 测试 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
暂无信息
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