[发明专利]一种在取向硅钢中获得沿晶断口的方法在审

专利信息
申请号: 202011597301.9 申请日: 2020-12-29
公开(公告)号: CN112858359A 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 鲍思前;雷小玲;徐帅;肖欢;徐耀文;杨庚蔚;叶传龙;甘晓龙 申请(专利权)人: 武汉科技大学
主分类号: G01N23/2202 分类号: G01N23/2202
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 段姣姣
地址: 430081 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种在取向硅钢中获得沿晶断口的方法:将取向硅钢样品加工成俄歇电子能谱仪标准试样;对标准试样进行表面清理;充氢:将标准试样所设定的预设断口处放入充氢装置的含硫脲溶液中,并使取向硅钢样品为阴极;将铂片置入并作为阳极;阴极充氢电流为1.25~1.35A,充氢电流密度在0.1~0.8A/m2,充氢时间在12~50h,充氢电压为36~39V;进行表面分析。本发明不仅工艺简单,便于操作,用时短,所用毒化剂是硫脲,从而避免了采用剧毒的三氧化二砷作为毒化剂,对人体健康有极大威胁的问题,且所获得的取向硅钢断口均为典型沿晶断口,适用于取向硅钢晶界偏聚行为以及晶界微区成分分析。
搜索关键词: 一种 取向 硅钢 获得 断口 方法
【主权项】:
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