[发明专利]绝缘子缺陷检测方法及相关装置在审
| 申请号： | 202011610362.4 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112634254A | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 汪翔;暴天鹏;吴立威 | 申请（专利权）人： | 北京市商汤科技开发有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/10;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 熊永强;董文俊 |
| 地址： | 100080 北京市海淀区北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供一种绝缘子缺陷检测方法及相关装置，其中，所述方法包括：获取待检测图像；在所述待检测图像中包括绝缘子的情况下，从所述待检测图像中分割出目标绝缘子图像；对所述目标绝缘子图像中的绝缘子进行缺陷检测，以确定所述目标绝缘子图像中的绝缘子是否存在缺陷。本申请实施例有利于提升绝缘子缺陷检测的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 绝缘子 缺陷 检测 方法 相关 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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