[发明专利]一种面向面特征的自适应形状测点规划方法及系统有效
| 申请号： | 202011611051.X | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112784368B | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 段桂江;张铭雨;刘睿 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06F30/17 | 分类号： | G06F30/17 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 王爱涛 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种面向面特征的自适应形状测点规划方法及系统。该方法包括：获取零件模型的的三维空间曲面；将所述三维空间曲面映射到二维空间坐标系中，得到所述零件模型的二维UV平面；根据所述二维UV平面获取所述零件模型的边界坐标；根据所述边界坐标，采用定步长布点的方法，确定U向和V向的初始的布点个数；将U向和V向的初始的布点个数均扩大n倍，得到预布置的测点；利用所述初始的布点个数以及所述边界坐标对所述预布置的测点进行筛选，得到实际测点的个数和方向；根据所述实际测点的个数和方向进行所述零件模型的测点规划。本发明提升了复杂零件制造过程的检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 特征 自适应 形状 规划 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学，未经北京航空航天大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011611051.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
