[发明专利]器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质在审
| 申请号： | 202011636005.5 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN114689958A | 公开（公告）日： | 2022-07-01 |
| 发明（设计）人： | 洪佳婷;敖资通;芦子哲;柳春美;贺晓光;严围 | 申请（专利权）人： | TCL科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 褚淑杰 |
| 地址： | 516006 广东省惠州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种器件寿命测试方法、设备、终端设备和可读存储介质，所述方法包括：以第一恒流电流对待测试器件进行通电，并在持续通电的过程中，获取待测试器件的第一器件亮度变化信息；根据第一器件亮度变化信息，判断待测试器件是否达到在第一恒流电流下的第一器件最大亮度；在待测试器件达到第一器件最大亮度时，增大第一恒流电流的值，直至增大后的恒流电流等于第二恒流电流；以第二恒流电流对待测试器件持续通电以进行器件寿命测试。本申请实施例通过由较低的第一恒流电流开始逐步增加至第二恒流电流，保证了器件既得到充分的通电，又减少对器件的损伤，降低待测试器件因起始状态不稳定造成的亮度波动，提高提高寿命测试准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 器件 寿命 测试 方法 设备 终端设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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