[发明专利]芯片测试组件、芯片测试系统和芯片测试方法在审
| 申请号： | 202011642087.4 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112834909A | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 林楷辉;倪建兴 | 申请（专利权）人： | 锐石创芯（深圳）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳众鼎汇成知识产权代理有限公司 44566 | 代理人： | 罗方华 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区梅林街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种芯片测试组件、芯片测试系统和芯片测试方法。该芯片测试组件所述测试子板上包括芯片装载区和测试连接区，所述芯片装载区用于装载待测试芯片，所述测试连接区上设有主板连接件；所述性能测试主板上包括主板基板和设置在所述主板基板上的子板连接件和信号传输端口，所述信号传输端口通过信号连接线与所述子板连接件电连接；当所述性能测试主板上的子板连接件与所述测试子板中的所述测试连接区上的主板连接件贴合时，所述信号传输端口与所述测试子板上的待测试芯片实现电连接。该芯片测试组件有助于保障测试准确性并降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 组件 系统 方法 | ||
【主权项】：
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