[实用新型]DRAM测试系统有效
| 申请号： | 202020067102.6 | 申请日： | 2020-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN210984289U | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 王烈洋;颜军;占连样;陈像;陈伙立 | 申请（专利权）人： | 珠海欧比特宇航科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 郑晨鸣 |
| 地址： | 519080 广东省珠*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种DRAM测试系统，包括：主控系统、第一FPGA系统、第一连接器、第二连接器及两个级联连接器。其中第一FPGA系统与所述主控系统连接，用于执行DRAM测试动作。第一连接器与所述第一FPGA系统连接，用于连接被测DRAM。第二连接器与所述CPU系统和FPGA系统连接，用于连接外部设备。两个级联连接器皆分别与所述主控系统和FPGA系统连接，用于多个上述技术方案的DRAM测试系统之间的级联。根据上述技术方案的DRAM测试系统，多个DRAM测试系统之间可以灵活级联，可以根据测试需求构成不同规模的DRAM测试系统，提高测试效率的同时保证资源利用最大化。 | ||
| 搜索关键词： | dram 测试 系统 | ||
【主权项】：
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