[实用新型]共轴对位检测光学系统有效

专利信息
申请号: 202020191498.5 申请日: 2020-02-21
公开(公告)号: CN211234321U 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 李航宇;宋喆男;朱伟岸 申请(专利权)人: 苏州灵猴机器人有限公司
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 范晴;顾天乐
地址: 215000 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种共轴对位检测光学系统,属于自动化检测组装技术领域。该共轴对位检测光学系统包括上物料定位组件、下物料定位组件、立方棱镜、工业镜头和工业相机;立方棱镜由两直角棱镜粘结得到,两直角棱镜中至少一个在粘结面镀有半透半反膜;粘结面与工业镜头对应设置,工业镜头与工业相机连接;上物料定位组件包括上环形光源和上半透半反平面镜,下物料定位组件包括下环形光源和下半透半反平面镜;上半透半反平面镜与一直角棱镜上一方形平面相对设置,下半透半反平面镜与另一直角棱镜上一方形平面相对设置,两方形平面平行设置。本实用新型通过立方棱镜实现双光路的同轴定位检测,节省了物料定位时间,且提高了精度。
搜索关键词: 对位 检测 光学系统
【主权项】:
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