[实用新型]晶圆承载盘有效
申请号: | 202020227335.8 | 申请日: | 2020-02-28 |
公开(公告)号: | CN211404466U | 公开(公告)日: | 2020-09-01 |
发明(设计)人: | 张小永;周祖武;高毅;李佳 | 申请(专利权)人: | 北京市塑料研究所 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 周琦 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及晶圆制造技术领域,尤其涉及晶圆承载盘,包括盘体,盘体构造有用于水平承载晶圆的承载部以及用于取放晶圆的取放部,取放部与承载部连通。本实用新型盘体上水平设置承载部,采用平铺方式承载晶圆,相较于传统竖向密集放置晶圆的承载装置,本实用新型的平铺承载部更有利于装载晶圆,通过与承载部连通的取放部取装片更加方便,便于观察检测,避免晶圆表面受损,降低了晶圆的在装载和取放过程中的碎片率,在生产晶圆产品过程中,提供更便于生产车间使用的承载盘,提高产品成品率及生产效率等。而且根据晶圆等产品的生产流程及操作习惯,通过对承载部尺寸精细设计可以避免晶圆与外界接触,提高产品品质。 | ||
搜索关键词: | 承载 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造