[实用新型]一种半导体激光器芯片测试装置有效
申请号: | 202020285402.1 | 申请日: | 2020-03-10 |
公开(公告)号: | CN212275884U | 公开(公告)日: | 2021-01-01 |
发明(设计)人: | 毛虎;王彦孚;陆凯凯;焦英豪;毛森 | 申请(专利权)人: | 广东鸿芯科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 深圳市特讯知识产权代理事务所(普通合伙) 44653 | 代理人: | 何明生 |
地址: | 523696 广东省东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种半导体激光器芯片测试装置,包括装置本体,所述装置本体底端四角处固定安装有固定套筒,所述固定套筒内壁边部焊接有凸块,所述固定套筒内壁活动连接有活动套筒,所述活动套筒一端对应凸块底端边部开设有凹槽,所述活动套筒底端中部固定安装有橡胶垫,所述固定套筒外表面顶部等距开设有方孔,所述方孔内壁中部设置有T型插杆,所述活动套筒内壁边部滑动连接有活动板,通过固定套筒、凸块、活动套筒、凹槽、橡胶垫、方孔和T型插杆,能够便于调节装置本体的高度,降低了装置本体高度的调节难度,进而便于不同身高的人群使用该装置,从而增加了该装置的适用范围,并且该调节方式操作简单,使用便捷。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体激光器 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】:
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