[实用新型]一种半导体激光器芯片测试装置有效

专利信息
申请号: 202020285402.1 申请日: 2020-03-10
公开(公告)号: CN212275884U 公开(公告)日: 2021-01-01
发明(设计)人: 毛虎;王彦孚;陆凯凯;焦英豪;毛森 申请(专利权)人: 广东鸿芯科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 深圳市特讯知识产权代理事务所(普通合伙) 44653 代理人: 何明生
地址: 523696 广东省东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种半导体激光器芯片测试装置,包括装置本体,所述装置本体底端四角处固定安装有固定套筒,所述固定套筒内壁边部焊接有凸块,所述固定套筒内壁活动连接有活动套筒,所述活动套筒一端对应凸块底端边部开设有凹槽,所述活动套筒底端中部固定安装有橡胶垫,所述固定套筒外表面顶部等距开设有方孔,所述方孔内壁中部设置有T型插杆,所述活动套筒内壁边部滑动连接有活动板,通过固定套筒、凸块、活动套筒、凹槽、橡胶垫、方孔和T型插杆,能够便于调节装置本体的高度,降低了装置本体高度的调节难度,进而便于不同身高的人群使用该装置,从而增加了该装置的适用范围,并且该调节方式操作简单,使用便捷。
搜索关键词: 一种 半导体激光器 芯片 测试 装置
【主权项】:
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