[实用新型]用于X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置有效
| 申请号： | 202020301420.4 | 申请日： | 2020-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN211718165U | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 马兵兵;徐阳;李科建;廖俊梅;卜云磊 | 申请（专利权）人： | 重庆岩土工程检测中心有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/2202 | 分类号： | G01N23/2202 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 400700 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置，涉及熔融制样装置，旨在解决人工取出铂金坩埚时可能被灼伤的问题，其包括XRF高频熔样炉，所述XRF高频熔样炉设置有熔融区，所述熔融区内设置有多个呈矩形排列的熔融炉，所述熔融区内设置有隔热机构，所述隔热机构包括隔热板，所述隔热板在竖直方向上横置于熔融炉上侧；所述隔热板背离显示屏的一端侧均置有两根滑动杆，两根所述滑动杆一端固定于隔热板，其另一端贯穿并滑动连接于XRF高频熔样炉的箱壁，所述滑动杆远离XRF高频熔样炉的一端设置有推拉杆，所述推拉杆的两端分别固定于两根滑动杆。本实用新型可降低工作人员在取出铂金坩埚时被灼伤的几率，使用效果相对更佳。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 射线 荧光 光谱 测定 杂质 元素 熔融 装置 | ||
【主权项】：
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