[实用新型]一种用于检测半导体的设备及关键结构

摘要

本实用新型公开了一种用于检测半导体的设备及关键结构，所述设备包括检测台、运输带、外观检测仪、翻转装置、转向辊、皮带、转辊、翻转轮、支架、刷子、电气检测仪、电磁铁、衔铁、复位弹簧、连杆、探针卡、缓冲弹簧、压杆、导引板、转向板、电机一和收集框；所述关键结构包括运输机构、检测机构和收集机构。本实用新型结构简单，检测迅速，通过翻转装置的设置能够对半导体进行翻转，并能对半导体进行双面的检查，避免半导体检测不全面的问题，提高固检测的全面性；通过电磁铁和探针卡的设置，对半导体进行电气测试，提高检测的便利性，后侧的收集框可方便的进行分类，方便下一步操作。