[实用新型]测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置

摘要

本实用新型揭示了测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置，其中测试探针包括探针主体，所述探针主体的测试端斜切形成有一斜切平面，所述斜切平面的面积大于其测试端未切割前的端面的面积。本方案结构简单，测试探针无需弹簧等结构，尺寸大大减小，能够满足小管脚步距的使用要求，通过将探针主体上形成面积大于其端面面积的斜切平面，相对于现有技术，能够有效地增加接触面积，拓宽测试探针与管脚之间的位置公差范围，同时，有利于降低测试设备的整体加工和组装难度，可以在常规加工和组装精度条件下，降低开路情况的产生，提高测试的可靠性和稳定性。