[实用新型]一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构

摘要

本实用新型公开了一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构，包括固定块，所述固定块上设有滑动槽，所述固定块内设有安装通槽，所述安装通槽内设有转动吸附块，所述安装通槽内滑动连接有测试探针，所述固定块上设有用于实现连接线连通测试探针的转轴机构，所述固定块上设有用于实现两个测试探针连接的连接机构。本实用新型结构合理，通过设置固定块，将测试探针与连接线分离式连接，避免连接线与测试探针的直接连接，避免测试探针因连接线电流增大而发生熔断报废的现象，通过设置连杆机构实现对测试探针之间的距离保持固定可调，降低多个定距电路在检测过程中的，降低人工测试时对于测试探针的距离调节的工作量。