[实用新型]测试装置有效
| 申请号： | 202020729338.1 | 申请日： | 2020-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN212808504U | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 陈朝灿 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科（北京）信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G05D23/24 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区经济技*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种测试装置，用于芯片加热老化测试，测试装置包括测试座和温控组件；温控组件包括多个加热器和控制组件，所述多个加热器中任意一个加热器与所述控制组件电连接，其中，多个加热器中不同的加热器分别具有不同的规格尺寸；在芯片和加热器放置于测试座内的情况下，控制组件控制加热器对芯片加热。在本实用新型实施例中，在该测试装置中将加热器与测试座分离，可在测试时使用与芯片规格型号匹配的对应加热器，而无需整体更换测试装置，因而，提高了通用性，减少了测试装置的重复浪费，降低了测试复杂度。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 | ||
【主权项】：
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