[实用新型]FD-SOI衬底结构及器件结构有效

专利信息
申请号: 202020792435.5 申请日: 2020-05-14
公开(公告)号: CN211828771U 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 徐大朋;薛忠营;罗杰馨;柴展 申请(专利权)人: 上海新微技术研发中心有限公司;上海功成半导体科技有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L29/78;H01L29/10
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 罗泳文
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型提供一种FD‑SOI衬底结构及器件结构,FD‑SOI衬底结构包括依次层叠的硅基底、埋氧化层、顶锗硅层及氮氧化锗层。本实用新型的衬底结构采用顶锗硅层及氮氧化锗层的堆栈结构,顶锗硅层作为器件的沟道,不需要进行掺杂且厚度较薄,可以大幅降低源漏极之间的泄漏电流,另一方面,顶锗硅层可大幅提高空穴迁移率,进而提高器件性能。顶锗硅层上覆盖氮氧化锗层,可以有效防止锗硅沟道表面形成溶于水的GeO2或易挥发的GeO,提高器件的稳定性。
搜索关键词: fd soi 衬底 结构 器件
【主权项】:
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