[实用新型]用于半导体材料测试的四探针测试仪有效
| 申请号： | 202020891669.5 | 申请日： | 2020-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN212433224U | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 刘伟阳 | 申请（专利权）人： | 自贡国晶科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525 | 代理人： | 赵爱婷 |
| 地址： | 643000 四川省自贡市沿滩区高新*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种用于半导体材料测试的四探针测试仪。所述用于半导体材料测试的四探针测试仪包括：检测仪放置台，所述放置台固定安装在检测仪的顶部；检测台，所述检测台转动安装在放置台的顶部；升降器，所述升降器固定安装爱放置台上；探测仪，所述探测仪固定安装在升降器上；第一转动槽，所述第一转动槽开设在放置台的一侧；内螺纹管，所述内螺纹管转动安装在第一转动槽内，所述内螺纹管的一端延伸至第一转动槽外；调节轮，所述调节轮固定安装在内螺纹管的一端；滑槽，所述滑槽开设在第一转动槽的一侧内壁上。本实用新型提供的用于半导体材料测试的四探针测试仪具有使用方便、便于检测体移动至探针底部的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 半导体材料 测试 探针 测试仪 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于自贡国晶科技有限公司，未经自贡国晶科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202020891669.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种柔性前臂康复训练装置
- 下一篇：一种电镀废液中的镍离子处理装置
