[实用新型]激光器芯片测试一体设备有效
| 申请号： | 202021130245.3 | 申请日： | 2020-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN213275842U | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 徐鹏嵩;郭孝明;朱晶;王凯旋 | 申请（专利权）人： | 苏州联讯仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 王健 |
| 地址： | 215011 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种激光器芯片测试一体设备，包括机架、安装于机架的基板上的测试座、驱动机构和测试探头，所述驱动机构进一步包括Z轴组件、与Z轴组件活动连接的Y轴组件、X轴电机和两个平行设置的X轴导轨，所述Z轴组件上安装有测试探头，用于驱动测试探头上下移动，此Z轴组件安装于Y轴组件上，所述Y轴组件的两端分别设置有一滑块，两个所述滑块分别与两个X轴导轨滑动连接，所述测试座进一步包括测试基板、加热片和底板，所述底板位于测试基板正下方，所述加热片设置于测试基板与底板之间，所述加热片的中央开设有一通孔。本实用新型提高了探头对器件测试的精度，保证测试数据的一致性与稳定性，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 激光器 芯片 测试 一体 设备 | ||
【主权项】：
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