[实用新型]一种缺陷定位装置和缺陷定位系统有效
| 申请号： | 202021372134.3 | 申请日： | 2020-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN212459440U | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 史进;李在桓 | 申请（专利权）人： | 西安奕斯伟硅片技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 黄灿;顾春天 |
| 地址： | 710065 陕西省西安市*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种缺陷定位装置和缺陷定位系统。缺陷定位装置包括：夹具，用于固定待检测产品；定位传感器，与所述夹具固定连接，所述定位传感器用于检测所述夹具的姿态信息；控制开关，与所述定位传感器电连接，所述控制开关用于向所述定位传感器输出控制所述定位传感器记录检测到的姿态信息的控制信号。本实用新型实施例提供的缺陷定位装置用于在目视检测产品缺陷过程中对产品存在的缺陷进行标记，使用过程中，可以通过定位传感器对缺陷定位装置的姿态进行检测，进一步通过操作控制开关实现对于缺陷的记录，从而能够快捷准确的实现对于产品缺陷的定位和记录，有助于提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 定位 装置 系统 | ||
【主权项】：
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