[实用新型]一种电子芯片设计试验检测装置有效
| 申请号： | 202021420645.8 | 申请日： | 2020-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN213023446U | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 李凯;唐成;陈勇;张磊;窦瑾;姜仲秋;徐永 | 申请（专利权）人： | 江苏意渊工业大数据平台有限公司;南京龙渊微电子科技有限公司;上海芯盛电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电子芯片设计试验检测装置，涉及电子芯片检测领域，包括检测台，所述检测台的上端外表面设置有支架杆、放置装置与辅助装置，所述支架杆位于位于放置装置的一侧，所述辅助装置位于放置装置的另一侧。本实用新型所述的一种电子芯片设计试验检测装置，通过放置装置的设置，放置装置在使用时有益于对检测的电子芯片进行放置，在使用时有益于放置多组和不同尺寸的电子芯片，在使用时检测较为方便，通过辅助装置的设置，辅助装置在使用时有益于对电子芯片进行检测，在使用时可便于检查电子芯片的故障，在使用时较为方便，有益于提高工作时的效率，使用的效果相对于传统方式更好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子 芯片 设计 试验 检测 装置 | ||
【主权项】：
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