[实用新型]用于NAND Flash测试电路有效
| 申请号： | 202021478669.9 | 申请日： | 2020-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN212365506U | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 李斌 | 申请（专利权）人： | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 44689 | 代理人： | 林国友 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种用于NAND Flash测试电路，运用于闪存测试技术领域，其测试电路具有母板部和子板部，其中，母板部设于测试母板上，子板部设于测试子板上；母板部包括电源电路、电压转换电路、单片机主控、数据传输电路和母板插针电路，电源电路与电压转换电路连接，电压转换电路分别与单片机主控和母板插针电路连接，单片机主控与数据传输电路连接，数据传输电路与外部PC端连接；子板部包括子板插针电路和芯片座子电路，子板插针电路分别与母板插针电路和芯片座子电路连接；子母板的两板设计简化了测试电路，电压转换电路丰富了测试平台的测试电压，解决了子板可更换而增加测试平台的使用寿命问题，节约了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 nand flash 测试 电路 | ||
【主权项】：
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