[实用新型]一种半导体制冷片综合测试设备

摘要

本实用新型公开了一种半导体制冷片综合测试设备，具体涉及半导体制冷片技术领域，包括综合测试设备本体，所述综合测试设备本体的底部固定连接有若干支撑柱，所述支撑柱的底部固定连接有第一支撑板，所述综合测试设备本体的下方设有矩形环，所述矩形环的顶部开设有若干通孔，所述通孔内设有第一活动柱，所述第一活动柱的底部固定连接有滚轮，所述第一活动柱的外部套设有位于矩形环底部的限位环，所述限位环与第一活动柱固定连接。本实用新型可以使得滚轮相对综合测试设备本体下移，进而使得滚轮与地面相接触，从而便于对综合测试设备本体进行移动，同时便于对气缸进行拆装，方便后期更换检修。