[实用新型]一种用于电子芯片加工的质量检测装置有效
| 申请号： | 202021509417.8 | 申请日： | 2020-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN213275391U | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 卢绍宾 | 申请（专利权）人： | 昆山永芯禾光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于电子芯片加工的质量检测装置，包括光学检测仪本体，所述光学检测仪本体下表面设置有检测镜头，所述光学检测仪本体后表面设置有立块，所述立块下端设置有底座，所述底座下表面固定有支腿，所述光学检测仪本体侧表面开设有导向槽，所述导向槽内侧设置有连接滑块，所述连接滑块一侧壁固定有防护板；通过设置有防护板、卡槽、连接滑槽、挡块、弹簧及导向槽，便于避免外侧物体直接与检测镜头发生接触碰撞，便于提高检测镜头的安全性，通过设置有耐磨铸铁、第一铷磁铁、定位柱、第二铷磁铁及凹槽，便于避免支腿下表面磨损后，对支腿下表面单独维护不便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电子 芯片 加工 质量 检测 装置 | ||
【主权项】：
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