[实用新型]一种用于芯片测试中的探针更换结构有效
| 申请号： | 202021590692.7 | 申请日： | 2020-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN212989575U | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 宁建宇;徐四九 | 申请（专利权）人： | 嘉兴威伏半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 浙江永航联科专利代理有限公司 33304 | 代理人： | 蒋文 |
| 地址： | 314200 浙江省嘉兴市平*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种用于芯片测试中的探针更换结构，属于机械技术领域。一种用于芯片测试中的探针更换结构，包括机架，所述机架上固定有工作台，所述工作台上具有用于固定芯片的固定结构，还包括固定架、第一推杆电机、第二推杆电机、移动板，固定架固定在机架上，移动板水平滑动设置在固定架上，第一推杆电机固定在固定架上，第一推杆电机的推杆与移动板固定相连，移动板上开设有若干孔组，每个孔组包括若干通孔，通孔内固定有导向筒，导向筒内滑动设置有升降块，升降块通过拉簧与导向筒固定相连，升降块上可拆卸设置有第一探针，第二推杆电机固定在固定架上。本实用新型具有在使用时不需要更换探针，可连续使用的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 测试 中的 探针 更换 结构 | ||
【主权项】：
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