[实用新型]一种用于ASIC芯片的测试装置

摘要

本实用新型公开了一种用于ASIC芯片的测试装置，包括安装板，所述安装板的顶部固定连接有放置台，所述放置台的顶部分别开设有放置槽和滑动槽，所述放置槽的内腔活动连接有夹板，所述夹板的左侧分别固定连接有弹簧和活动杆，所述活动杆的左侧贯穿至滑动槽的内腔并固定连接有推把，所述安装板顶部的两侧均固定连接有支撑板。本实用新型通过设置安装板、推把、放置槽、弹簧、放置台、夹板、滑动槽、支撑板、安装壳、照明灯、定位螺栓、横板、测试器、电动伸缩杆、固定板、壳体、测试探杆、活动杆、连接块、缓冲弹簧和活动块的配合使用，具备缓冲功能，避免测试时芯片破损，能够对不同体积的芯片进行固定的优点。