[实用新型]一种测量键合丝银离子迁移的制具有效
申请号: | 202021749309.8 | 申请日: | 2020-08-20 |
公开(公告)号: | CN212808372U | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | 曹昆明;赵中原;徐锦旭 | 申请(专利权)人: | 合肥矽格玛应用材料有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/00 |
代理公司: | 安徽申策知识产权代理事务所(普通合伙) 34178 | 代理人: | 梁维尼 |
地址: | 230000 安徽省合肥市高新区*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型属于迁移检测技术领域,尤其为一种测量键合丝银离子迁移的制具,包括底板,所述底板上端面设有夹持件,所述底板上端面固定连接有固定件,所述底板上端面滑动连接有滑动件,所述夹持件包括底座和固定连接在所述底座上端面的支撑杆,所述支撑杆上端面固定连接有固定板,所述压板上设有导电件,所述底板上端面滑动连接有检测板;固定件上端面的压板开启,然后将键合银丝另一端放置在滑动件上的线槽中,操作滑动件使键合银丝伸直,绝缘检测件放置在检测板上方的安装板表面,伸缩杆使绝缘检测件与键合银丝底部接触,然后通过导电件与外部放电设备连接对键合银丝进行放电,完成检测,该装置提高了操作人员检测的便利性。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 键合丝 银离子 迁移 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥矽格玛应用材料有限公司,未经合肥矽格玛应用材料有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202021749309.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种分体式医用外科口罩
- 下一篇:一种直流屏用电池的固定结构