[实用新型]一种射频芯片测试设备有效
| 申请号： | 202021758954.6 | 申请日： | 2020-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN212321785U | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 窦国珍;罗伟 | 申请（专利权）人： | 成都云绎智创科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01B11/00;G01B11/06 |
| 代理公司： | 成都环泰专利代理事务所(特殊普通合伙) 51242 | 代理人： | 李斌;李辉 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种射频芯片测试设备，包括限位装置，所述限位装置用于对待测试芯片进行限位；高度位置检测装置，所述高度位置检测装置用于检测待测试芯片的高度误差值；水平位置检测装置，所述水平位置检测装置用于检测待测试芯片的水平位置；微针座，所述微针座上设置有用于连接待测试芯片的微针；第一运动机构，所述微针座设置在第一运动机构上；测试系统，所述测试系统与微针连接，所述测试系统用于通过微针对待测试芯片进行测试。具有采用机械定位及下针，定位精度高，下针准确度更高，对测试人员要求低，测试效率更高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 芯片 测试 设备 | ||
【主权项】：
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