[实用新型]一种集成电路测试装置有效
| 申请号： | 202021780280.X | 申请日： | 2020-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN212932705U | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 杨光 | 申请（专利权）人： | 深圳市博盛盈科供应链有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人： | 饶富春 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路测试装置，包括底座，所述底座的顶部固定安装有固定座和竖板，竖板的顶部固定安装有横板，横板的顶部固定安装有第一电动推杆和电仪表，第一电动推杆的输出端固定安装有第一伸缩杆，横板的顶部开设有圆孔，第一伸缩杆的底端贯穿圆孔并固定安装有安装板。本实用新型设计合理，实用性好，便于对不同尺寸的集成电路进行稳固夹持，避免对集成电路测试过程中造成集成电路发生偏移而导致测试结果不准确，并且便于对测试探针的高度位置和水平位置进行调节，不需人工手动调节，给检测工作带来便捷性，而且能够实现了对多个集成电路进行连续性测试工作，合理利用工作时间，大大的提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
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