[实用新型]一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统有效
| 申请号： | 202021884583.6 | 申请日： | 2021-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN213633700U | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 孙志年;王拓;姜占东 | 申请（专利权）人： | 无锡军工智能电气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 | 代理人： | 赵华 |
| 地址： | 214000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统是以量产测试数字类智能开关控制芯片产品为目标的高性能集成电路测试机，可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试，主要可测试运放等线性电路、功放类电路、马达驱动类电路、电源管理类电路、收音机类电路等各类模拟电路和数模类电路。系统由工控机、测试主机、DUT盒、测试终端接口、GPIB接口等几部分构成，测试盒可以放到最靠近测试区的位置，以达到最佳的测试效果，整个测试系统由不同的电源模块和信号模块组成，可以根据用户产品测试的实际需要选择合适的模块和数量，各模块在机架内插入槽位不受限制，插入后软件自动识别并加以控制，开机后可以通过软件查看系统的实际配置情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适应 智能 开关 控制 芯片 测试 成品 系统 | ||
【主权项】：
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