[实用新型]一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统有效
| 申请号： | 202022087487.5 | 申请日： | 2020-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN213457326U | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 杨平;黄德林;曾艳军;田志飞 | 申请（专利权）人： | 深圳顺络电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/69 | 分类号： | G01R31/69;G01R27/26;G01R27/02 |
| 代理公司： | 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651 | 代理人： | 王敏生 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，属于电阻检测技术领域，包括：测试座，用于放持待测试产品；设置在测试座上的四个测试端子，四个测试端子分别与待测试产品的电极相对应电连接；与两个测试端子电连接的高阻计，用于检测待测试产品的绝缘电阻，测试座与高阻计组成一闭合回路；与另两个测试端子电连接的电容器，电容器与测试座组成另一闭合回路，且电容器与高阻计并联设置；因此使得高阻计能够测量电容器及位于测试座上待测试产品的电容值总和，因此若高阻计的电容值测量结果小于或等于电容器的电容值，则表明了测试端子与待测试产品接触不良，从而能够及时将这些产品剔除或重新测试，因此提高了测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 绝缘 电阻 检测 仪器 接触 不良 测试 系统 | ||
【主权项】：
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