[实用新型]上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机有效
| 申请号： | 202022219975.7 | 申请日： | 2020-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN213022827U | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 杨建设;张雅凯;缪凯;刘雪飞 | 申请（专利权）人： | 昆山晔芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/95 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 刘艳 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供了一种上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，上盖组件包括上盖支架、镜头固定座、设于镜头固定座内的镜头、上压片固定座、上压片、设于上盖支架内的第一加热结构以及上盖电路板，上盖支架的一侧开设有镜头腔，上盖支架的另一侧开设有压片腔，镜头固定座固定于镜头腔内，上压片固定座固定于压片腔内，上压片固定于上压片固定座且用于压紧芯片。本实用新型提供的上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，通过设置镜头固定座和上压片固定座，使得在更换芯片之后，可以通过调整镜头相对镜头固定座的位置或者更换镜头固定座、通过调整上压片相对上压片固定座的位置或者更换上压片固定座即可以适用于不同的芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 组件 芯片 测试 机构 一体机 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆山晔芯电子科技有限公司，未经昆山晔芯电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202022219975.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：LCD漏光测试装置
- 下一篇：一种幻灯放映装置的排风结构
