[实用新型]一种半导体溅合设备专用测试装置有效

专利信息
申请号: 202022289109.5 申请日: 2020-10-14
公开(公告)号: CN213689530U 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 吴庆岩 申请(专利权)人: 浙江蔚福科技股份有限公司
主分类号: G01N33/00 分类号: G01N33/00
代理公司: 杭州昱呈专利代理事务所(普通合伙) 33303 代理人: 雷仕荣
地址: 314100 浙江省嘉兴*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型涉及半导体技术领域,特别是一种半导体溅合设备专用测试装置,包括框架本体、悬臂梁、检测模块、第一液体测试组件、第二液体测试组件、第一气体测试组件和第二气体测试组件,所述框架本体包括底板、第一竖板、第二竖板和辅助板,所述第一竖板与第二竖板分别竖直安装在底板的两侧。本实用新型优点在于:将需测试的气体通过第一进气口输送至第一连接管内,并将第一连接管的另一端连接第一气体流量传感器,使得第一气体流量传感器可以对第一连接管的气体进行测试,测试完成后,通过连接第一输液接口,将清洁液体输送至第一连接管内,对第一连接管内进行清洁,防止因第一连接管内残留的测试气体,而影响后续测试的结果。
搜索关键词: 一种 半导体 设备 专用 测试 装置
【主权项】:
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