[实用新型]一种用于单芯片压接IGBT器件功率循环测试夹具有效

专利信息
申请号: 202022313161.X 申请日: 2020-10-16
公开(公告)号: CN216051812U 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 安彤;李泽峥;秦飞;陈晓萱;田延忠 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 刘萍
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种用于单芯片压接IGBT器件功率循环测试夹具涉及压接型IGBT器件测试领域,一种用于单芯片压接IGBT器件功率循环测试夹具,其特征在于,所述夹具包括均压组件、压力测量组件、第一绝缘板、第一铜排、第一水冷散热器组件、第二水冷散热器组件、第二铜排、第二绝缘板、位移补偿组件;所述均压组件包括绝缘顶压导杆、顶压板、均压钢球、均压座;所述位移补偿组件包括碟簧导杆、碟形弹簧、碟簧垫片、底板。本实用新型提供的装配结构更稳定,装配更简单,压力分布均匀,可实时显示压力大小,散热性能更好,控温精度更高的夹具。
搜索关键词: 一种 用于 芯片 igbt 器件 功率 循环 测试 夹具
【主权项】:
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